現(xiàn)在國內(nèi)檢測設(shè)備的創(chuàng)業(yè)市場實在數(shù)太火了

本月初，我剛剛發(fā)布了一個數(shù)據(jù)，統(tǒng)計了全球53家半導體缺陷檢測設(shè)備的供應(yīng)商數(shù)據(jù)。這才過去兩周的時間，我這里有收集到三家供應(yīng)商信息，而且都是中國大陸的廠商 -- 基本每周增加1到2家 ...

 其實這個領(lǐng)域的技術(shù)門檻很高。按照之前某個行業(yè)大佬給我的指點：

目前國內(nèi)很多缺陷檢測設(shè)備還是停留在AOI的階段，分辨率都在0.5um以上。而真正意義上的納米級檢測設(shè)備，無論是有圖形還是無圖形，一般明場的準入門檻必須達到小于250nm，而暗場的門檻是小于100nm

有圖形檢測一般對標KLA的2139（明場）和PUMA 93XX/95XX（暗場）；無圖形的一般以KLA的 Surfscan為基準（目前這塊國內(nèi)好像有幾家已經(jīng)做得相當不錯，技術(shù)指標可以達到SP3甚至S號稱對標SP6）

目前限于能力有限，我還無法對收集到的56家供應(yīng)商（其中37家是中國大陸廠商）進行更細致的技術(shù)分級統(tǒng)計。只能先做個相對簡單的統(tǒng)計表格供大家參考一下

大家發(fā)現(xiàn)任何問題，或者有任何建議，請留言和我交流。謝謝您的支持了

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