人工智能近兩年似乎進(jìn)入井噴式的發(fā)展階段,各種應(yīng)用也應(yīng)允而生。AI 如何改善我們的原有產(chǎn)品乃至產(chǎn)業(yè),越來(lái)越多的企業(yè)正在投入,這有點(diǎn)像20年前各產(chǎn)業(yè)都在做 “互聯(lián)網(wǎng) +”的勢(shì)頭。 海外AI PIN、Rabbit RI 似乎賣(mài)得并不太成功,但是 Meta Ray-Ban 第二代 AI 眼鏡卻爆火……
一、測(cè)試程序的基本概念 測(cè)試程序,即被ATE(Automatic Test Equipment,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備)識(shí)別和執(zhí)行的指令集,是集成電路測(cè)試的核心。測(cè)試程序的主要功能是指引ATE在測(cè)試中如何與被測(cè)器件(DUT)交互,具體包括如何對(duì)DUT施加不同的輸入激勵(lì),如何測(cè)量其響應(yīng)信號(hào),以及將測(cè)量結(jié)果與設(shè)定的門(mén)限值(Li……